На первую
Новости
О нас
Информация
Объявления
Контакты

Вход на сайт:
Логин
Пароль
Восстановить пароль
Регистрация



Микроскопы

Микроскопия



Микроскопия > Электронная микроскопия > Методы электронной микроскопии > Метод реплик

Метод реплик
Рассмотрим метод реплик для изучения поверхностной геометрической структуры массивных тел. С поверхности такого тела снимается отпечаток в виде тонкой плёнки углерода, коллодия, формвара и др., повторяющий рельеф поверхности и рассматривается в просвечивающем электронном микроскопе. Обычно предварительно под скользящим (малым к поверхности) углом на реплику в вакууме напыляется слой сильно рассеивающего электроны тяжёлого металла (например, Pt), оттеняющего выступы и впадины геометрического рельефа.

Доска объявлений
Другое
Ремонт и обслуживание микроскопов
Покупка микроскопов
Продажа микроскопов
Читать объявления
Добавить объявление


Полезные сайты
Информация
Объявления
Вопросы
Контакты
Справочник
Яндекс цитирования Rambler's Top100
Отправить сообщение
разработчику сайта