На первую
Новости
О нас
Информация
Объявления
Контакты

Вход на сайт:
Логин
Пароль
Восстановить пароль
Регистрация



Микроскопы

Микроскопия



Микроскопия > Атомно-силовой микроскоп > Принцип действия атомно-силового микроскопа.

Принцип действия атомно-силового микроскопа.
В основе атомно-силового микроскопа лежит использование сил атомных связей, действующих между атомами вещества. Если два атома находятся на малом расстоянии друг от друга (примерно одного ангстрема, 1 Ǻ = 10–8 см), то на них действуют силы отталкивания, если на большом – то силы притяжения. Этот же принцип действует и для любых сближающихся тел, коими в сканирующем атомно-силовом микроскопе являются исследуемая поверхность и скользящее над нею острие. Как правило, в приборе используется алмазная игла, которая плавно скользит над поверхностью образца – сканирует эту поверхность.

микроскоп атомный


При изменении силы F, действующей между поверхностью и острием, упругий элемент (пружинка) П, на которой оно закреплено, отклоняется, и такое отклонение регистрирует датчик D. Датчиками в атомно-силовом микроскопе могут служить любые особо точные и чувствительные – прецизионные – измерители перемещений, в частности оптические, емкостные или туннельные датчики. По величине отклонения пружинки можно судить о высоте рельефа – топографии поверхности и об особенностях межатомных взаимодействий. Главное отличие между атомно-силовым и сканирующим туннельным микроскопом состоит в том, что в атомно-силовом микроскопе сканирование исследуемого образца происходит по «поверхности постоянной силы», а в сканирующем туннельном микроскопе – по поверхности постоянного туннельного тока.

Доска объявлений
Другое
Ремонт и обслуживание микроскопов
Покупка микроскопов
Продажа микроскопов
Читать объявления
Добавить объявление


Полезные сайты
Информация
Объявления
Вопросы
Контакты
Справочник
Яндекс цитирования Rambler's Top100
Отправить сообщение
разработчику сайта